Xjl - 302dic le grand microscope interférométrique interférométrique différentiel positif à contraste de phase métallométrique est adapté pour l'observation réflective de la morphologie de surface d'objets opaques et peut également être utilisé pour l'observation microscopique en perspective d'objets transparents. En utilisant l'excellent système optique à distance infinie et le concept de conception de fonction modulaire, il peut être pratique de mettre à niveau le système pour réaliser l'observation polarisée, l'observation interférentielle différentielle et d'autres fonctions, le corps rigide compact et stable, reflète pleinement les exigences antivibratoires de l'opération microscopique. Conception idéale pour répondre aux exigences ergonomiques, rendant l'opération plus pratique et confortable et l'espace plus large. Adapté à l'observation microscopique de l'Organisation métallographique et de la morphologie de surface, il est l'instrument idéal pour la recherche en métallologie, minéralogie et ingénierie de précision.