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Microscope électronique à transmission par émission de champ HF - 3300
La célèbre source d'électrons à émission de champ froid d'Hitachi et la technologie de tension d'accélération de 300 kV se combinent pour créer des ca
Détails du produit
Microscope électronique à transmission par émission de champ HF - 3300
La célèbre source d'électrons à émission de champ froid d'Hitachi et la technologie de tension d'accélération de 300 kV se combinent pour créer des capacités d'imagerie ultra - haute résolution et d'analyse haute sensibilité. La technologie holographique biprisme, le spectre de perte d'énergie électronique résolu dans l'espace et la technologie de diffraction de faisceau nanoélectronique parallèle de haute précision ouvrent de nouvelles voies d'analyse d'échantillons hautement efficaces et de haute précision.
Caractéristiques
Résolution
0,1 nm (matrice de points de cristal)
0,19 nm (point à point)
0,13 nm (limite d'information)
Grossissement
200 fois à 1 500 000 fois
Tension d'accélération
300 kV, 200 kV*, 100 kV*
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- : sélection d'accessoires
Classification des produits associés
- Faisceau d'ions focalisé
- Unité de traitement frontal des échantillons TEM / SEM
Enquête en ligne
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